設備名称	卓上走査電子顕微鏡 JCM-6000
機関・部局名	新潟大学　共用設備基盤センター
設置場所	環境エネルギー棟303室
どのような分析・計測ができるのか	真空中で発生させた電子線を試料に照射することで、表面観察や元素分析を行うことができる装置。
設備の仕様	【電子光学系】・フィラメント：W電子銃　・加速電圧：5ｋV、10ｋV、15ｋV　・2次電子像最高分解能：0.1μｍ　・検出器：二次電子検出器（SED）、反射電子検出器（BED）・付属装置：エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） ・分析元素範囲 4Be～92U　【試料ステージ系】 ・最大試料寸法 外径 φ70mm 高さ 40mm 【分析モード】 定性分析、定量分析、マッピング分析、低真空モード
共同利用の可否	学内
共同利用可能な場合の形態	学内	設備利用　/　依頼分析
	学外	学外利用不可
予約に対する承認の有無	学内の利用者による予約	承認後利用
	学外利用者による予約	承認後利用
利用可能時間帯	平日	09:00 ～ 16:00
	土日祝	終日利用不可

担当者氏名	中島泰洋
電話番号	025-262-7313
e-mail	nakajimay0@cc.niigata-u.ac.jp
URL

キーワード	SEM 走査型電子顕微鏡 定性分析 元素分析 EDS 表面分析

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