設備名称	分析走査型電子顕微鏡　JSM-6510LA
機関・部局名	新潟大学　農学部
設置場所	農学部B棟B218
どのような分析・計測ができるのか	無機物等の表面微細構造を観察できる。
設備の仕様	分解能 高真空モード　3.0 nm（30 kV）、8 nm（3 kV）、15 nm（1 kV） 低真空モード　4.0 nm（30 kV） 倍率 × 5 ～× 300,000（画像サイズ128 mm × 96 mmにて） プリセット倍率 5段、ユーザー設定可 標準レシピ 有り カスタムレシピ 観察条件（照射系、画像モード、試料室圧力）試料ステージ 画像モード 二次電子像、REF像、組成像、凹凸像、立体像 加速電圧 0.5 kV ～ 30 kV フィラメント ファクトリープリセンター形 電子銃 完全自動、手動調整可能 コンデンサーレンズ ズーム形 対物レンズ スーパーコニカル形 対物レンズ絞り 3段、XY微調整つき 非点メモリー 有り イメージシフト ± 50 μm（作動距離10 mm） 自動機能 フォーカス、露出、非点補正 試料ステージ 大形ユーセントリック式5軸モーター駆動 X: 80 mm、Y: 40 mm、Z: 5 mm～48 mm、 傾斜: −10°～＋90°、回転: 360° 試料交換 ステージ引出し式 最大試料寸法 150 mm径 PC IBM PC/AT 互換機 OS Windows 7 観察モニター 19形LCD 画像メモリー 640 × 480画素、1,280 × 960画素、2,560 ×1,920画素、5,120×3,840画素 2種ライブ像表示 有り フル画面表示 有り 擬似カラー 有り 分割画面表示 2画像、4画像 デジタルズーム表示 有り デュアルマグ 有り ネットワーク イーサーネット 測長機能 有り 画像フォーマット BMP、TIFF、JPEG 画像自動保存 有り 排気系 完全自動、DP: 1台、RP: 1または2※1台 真空モード切換 操作メニュー上、1分以内 低真空圧力 10 ～270 Pa JED-2300 EDS 有り（詳細仕様はJED-2300カタログ参照）
共同利用の可否	学内
共同利用可能な場合の形態	学内	設備利用
	学外	学外利用不可
予約に対する承認の有無	学内の利用者による予約	予約後即利用
	学外利用者による予約	予約後即利用
利用可能時間帯	平日	00:00 ～ 24:00
	土日祝	00:00 ～ 24:00

担当者氏名	西海理之
電話番号	025-262-6663
e-mail	riesan@agr.niigata-u.ac.jp
URL

キーワード	元素分析 表面構造 微細構造

関連技術者