設備名称	X線マイクロアナライザー
機関・部局名	新潟県工業技術総合研究所　下越技術支援センター
設置場所	新潟市中央区鐙西1-11-1
どのような分析・計測ができるのか	電子ビームを試料に照射し、発生する特性Ｘ線の波長や強度などを測定することによって、試料の構成元素の定性や定量、分布状態などをミクロからマクロの領域まで、非破壊で分析できます。　・炭素、酸素、窒素などの軽元素と同時に金属元素などを検出することが可能です。また、１ミクロン程度の微小異物の測定が可能です。微小異物の元素情報、腐食などの酸化分布の測定に適しており、材料の組成分析や不純物分析、異物分析などに広く活用されています。
設備の仕様	１．電子光学系　電子銃：W及びLaB6、加速電圧：0.2～30kV、照射電流範囲：10E-12A～10E-5A、二次電子像分解能：6nm(W)、5nm(LaB6)、倍率：40～300,000倍　２．Ｘ線分光系　分析元素範囲：B～U、分光器：4基、ローランド円半径：高感度用(100mm)及び高分解能用(140mm)、分光結晶：TAＰＨ、LiFH、PETH、LDE1H、TAP、LiF、PET、LDE2　３．試料ステージ系　最大試料：100×100×50mm、分析領域：90mm×90mm　４．分析ソフト　定性・定量・半定量・線分析（斜め方向も可）・マッピング（湾曲面も可）
共同利用の可否	企業　/　教育・研究機関
共同利用可能な場合の形態	学内	依頼試験　/　機器使用　（新潟大学在籍者）
	学外	依頼試験　/　機器使用　（企業、 教育・研究機関）
予約に対する承認の有無	学内の利用者による予約	予約不可
	学外利用者による予約	予約不可
利用可能時間帯	平日	09:00 ～ 17:00
	土日祝	終日利用不可

担当者氏名	新潟県工業技術総合研究所　下越技術支援センター
電話番号	025-247-1320
e-mail	ngt052010@pref.niigata.lg.jp
URL	https://www.pref.niigata.lg.jp/iri/ka-h-995.html

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