設備名称	JEOL　FE-SEM　JSM-IT800（SHL）
機関・部局名	新潟大学　共用設備基盤センター
設置場所	環境エネルギー棟303室
どのような分析・計測ができるのか	真空中で発生させた電子線を試料に照射することで、表面観察や元素分析を行うことができる装置。
設備の仕様	【電子光学系】・ショットキー電界放出形電子銃　・加速電圧：100V～30ｋV　・2次電子像分解能：0.5nm(理論値)　・照射電圧：0.01～30ｋＶ　・照射電流：10⁻¹²～5×10⁻⁷Ａ　・検出器：二次電子検出器（SED）、反射電子検出器（BED）、上方電子検出器（UED）、上方ハイブリッド検出器（UHD）　・付属装置：エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） ・分析元素範囲 5B～92U　【試料ステージ系】 ・最大試料寸法 外径 φ50mm 高さ 30mm ・最大試料重量 0.5kg ＜分析モード＞ 定性分析、定量分析、エリア分析、マッピング分析、ライン分析
共同利用の可否	学内　/　学外教育・研究機関　/　学外公的機関　/　企業
共同利用可能な場合の形態	学内	依頼分析
	学外	依頼分析
予約に対する承認の有無	学内の利用者による予約	予約後即利用
	学外利用者による予約	予約後即利用
利用可能時間帯	平日	終日利用不可
	土日祝	終日利用不可

担当者氏名	中島泰洋
電話番号	025-262-7313
e-mail	nakajimay0@cc.niigata-u.ac.jp
URL

キーワード	SEM 走査型電子顕微鏡 定性分析 元素分析 EDS 表面分析

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