| 質量分析 (GC-MS，LC-MSなども含む) |
プロテオーム解析 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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高深度プロテオーム解析システム ThermoFisher社製 ハイブリッド型質量分析計 FAIMS pro2 with Exploris 480 |
質量分析
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| 生体試料分析 (DNA関連分析を除く) |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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細胞フラックスアナライザー |
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| 質量分析 (GC-MS，LC-MSなども含む) |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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細胞内分子修飾解析装置（質量分析装置）サイエックスTripleTOF5600 |
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| その他 |
質量分析試料調整 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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質量分析試料調整システム |
発現プロテオーム解析、リン酸化プロテオーム解析などの試料調製。
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| その他 |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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集細胞遠心装置 Cytospin4 |
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| 生体試料分析 (DNA関連分析を除く) |
ミクロトーム |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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振動刃ミクロトーム ライカVT1200S |
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| 顕微鏡 (電子顕微鏡以外の顕微鏡) |
蛍光顕微鏡 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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多機能ｲﾒｰｼﾞﾝｸﾞを可能とする蛍光顕微鏡ｼｽﾃﾑ カールツァイスELYRA S.1 |
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| 生体試料分析 (DNA関連分析を除く) |
遠心機 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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卓上冷却高速遠心機 |
生体試料の分画
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| 遠心分離機 |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超遠心機 HITACHI himac CP 90NX |
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| 遠心分離機 |
超遠心機 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超遠心機 CP 80b |
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| 生体試料分析 (DNA関連分析を除く) |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超音波ホモジナイザー |
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| その他 |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超音波細胞破砕システム |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_01 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_02 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_03 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_04 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_05 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_06 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_07 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_08 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_09 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
低温装置 |
新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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超低温フリーザー_10 パナソニックヘルスケア MDF-DC500-VX-PJ |
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| その他 |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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凍結乾燥装置 |
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| 生体試料分析 (DNA関連分析を除く) |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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等電点分離装置 OFFGEL |
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| 生体試料分析 (DNA関連分析を除く) |
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新潟大学 医学科研究推進センター |
オミックス共用ユニット |
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分取型中低速クロマトグラフィー |
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| 質量分析 (GC-MS，LC-MSなども含む) |
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新潟薬科大学 |
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ガスクロマトグラフ質量分析装置 GCMS-QP2010SE |
有機化合物の質量分析・構造解析
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| 分析機器 |
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新潟薬科大学 |
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セルソーター SH800 |
特定の細胞集団を高いスループットで分離し、下流のアプリケーションでの感度と特異性を向上させることができる。遺伝子編集、幹細胞生物学、免疫学、ゲノミクスなどの様々な研究分野で利用されている。
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| 光分析 (吸光，発光，ラマン分析など) |
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新潟薬科大学 |
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円2色性分散計 J-820 |
円二色性(CD)測定による、タンパク質などの高分子の二次構造解析等
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| 顕微鏡 (電子顕微鏡以外の顕微鏡) |
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新潟薬科大学 |
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共焦点レーザー顕微鏡 FV1000-D |
共焦点レーザーにより、蛍光染色した細胞や組織サンプルの観察と撮影を高感度に行える。
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| 質量分析 (GC-MS，LC-MSなども含む) |
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新潟薬科大学 |
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高輝度フェムト秒レーザーシステム（＋TOF-MS使用可） |
フェムト秒レーザーの各種物質への照射，TOF-MSによるイオン分析
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| 質量分析 (GC-MS，LC-MSなども含む) |
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新潟薬科大学 |
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精密質量分析装置UHPLCシステム micrOTOF2 |
試料中に含まれる成分の精密質量を測定し、その成分の組成式(元素組成)の推定と同定を行う。
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| 質量分析 (GC-MS，LC-MSなども含む) |
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新潟薬科大学 |
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超高速液体クロマトグラフ質量分析装置 LCMS-8030 |
有機化合物の質量分析・構造解析
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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3m電波暗室（登録） |
各種EMC規格に準拠したEMI測定およびイミュニティ試験が可能。EMC測定システムを併用。 １．EMI測定 ・放射電界強度測定 ・磁界強度測定 ・伝導妨害波測定(電源ポート、 通信ポート) ２．イミュニティ試験 ・放射電界イミュニティ試験 ・無線周波連続伝導イミュニティ試験 ●設備登録 一般財団法人VCCI協会へ設備登録、設備名：3m電波暗室(登録)、登録番号：・1GHz以下放射エミッション測定設備 R-13553、・1GHz超放射エミッション測定設備 G-10351、・AC電源ポート伝導エミッション測定設備 C-13967、・通信(有線)ポート伝導エミッション測定設備 T-11048
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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EMC試験システム |
伝導妨害波測定、放射電界強度測定、妨害電力測定、電源高調波電流、フリッカ測定、静電気イミュニティ試験、雷サージイミュニティ等
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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G-TEMセル |
G-TEMセルは同軸伝送線路の中で電界を発生させる装置です。放射電界イミュニティ試験（80MHz～1GHz）が可能です。
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| 機器分析 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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X線マイクロアナライザー |
電子ビームを試料に照射し、発生する特性Ｘ線の波長や強度などを測定することによって、試料の構成元素の定性や定量、分布状態などをミクロからマクロの領域まで、非破壊で分析できます。 ・炭素、酸素、窒素などの軽元素と同時に金属元素などを検出することが可能です。また、１ミクロン程度の微小異物の測定が可能です。微小異物の元素情報、腐食などの酸化分布の測定に適しており、材料の組成分析や不純物分析、異物分析などに広く活用されています。
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| 機械的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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X線応力測定装置 |
X線回折法を利用し、試料を破壊することなく構造物に蓄積した残留応力や、製造工程で発生した残留応力を測定する装置です。中型架台、現場用架台の選択により、巨大構造物から中型構造物、小型試料に至るまで対応が可能です。 平成２６年度地域オープンイノベーション促進事業導入機器
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| 機器分析 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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X線回折装置 |
X線の回折現象を利用し、結晶質の格子面間隔を測定します。 ・格子面間隔は物質の結晶構造、成分によって固有なので、データベースを検索することで、物質を同定できます。結晶質であれば、金属、セラミックス、鉱物などの定性分析ができます。
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| 機器分析 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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イオンクロマトグラフ |
水溶液中のイオンの定性、定量に使用します。水溶液中のイオンをカラムで分離して、電気伝導度検出器で検出、リテンションタイムからイオン種を同定し、クロマトグラムのピーク面積比から、イオン濃度を定量します。
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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インピーダンス測定装置 |
インピーダンス等の測定を行い電子部品の特性評価する
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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オシロスコープ |
電気信号の波形を視覚的に表示し、解析する
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| 機器分析 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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シールド効果計測器（アドバンテスト法） |
アドバンテスト法に則った、試料の電磁波シールド特性 S21 を測定することができます。 ネットワークアナライザと併せて使用します。 ネットワークアナライザの貸付料金が別途加算されます。
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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シールド効果計測器（伝送減衰率法、 3 GHz - 18 GHz） |
電波吸収材料の評価指標である、伝送減衰率 Rtp を測定することができます。IEC62333-1、IEC62333-2 に準拠。 ネットワークアナライザと併せて使用します。 ネットワークアナライザの貸付料金が別途加算されます。
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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シールド効果計測器（同軸管法） |
同軸管法に則った、試料の電磁波シールド特性 S21 を測定することができます。
ネットワークアナライザと併せて使用します。ネットワークアナライザの貸付料金が別途加算されます。
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| 強度試験 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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シャルピー衝撃試験機 |
金属材料のシャルピー衝撃試験を行います。 試験片に衝撃力を加え、これを割る際に要したエネルギーの大きさからその材料のじん性を求める試験。決まった重さのハンマーを所定の角度まで持ち上げた際の位置エネルギーと、所定の試験片に持ち上げたハンマーを振り下ろし、試験片を破断した後にハンマーがどの角度まで上がったかによって求められる位置エネルギーの差を破断に要するエネルギーとし、それを試験片の原断面積で割った値がシャルピー衝撃値。 ・特に鋳物等の金属材料同士のじん性を比較する際や、低温での材料のじん性低下を確認するために行われる。
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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スペクトラムアナライザー |
高周波信号の周波数成分や強度を解析し、信号のスペクトルを視覚的に表示する
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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データロガー |
センサにより測定した電圧や温度などの時系列データを記録します。
製品の温度や電圧変動などを測定します。
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| 光学的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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デジタルマイクロスコープ |
・金属組織観察と同時に二次元での寸法測定が可能。 ・明視野、暗視野 微分干渉画像の撮影が可能。 ・3Dフォーカス機能、3Dプロファイルの各種解析が可能。
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| 電気的測定 |
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新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター |
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デジタルマルチメータ |
電圧、電流、抵抗、周波数を高い分解能で測定します。
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